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《电子测试:新电子》
国内刊号:11-3927/TN 国际刊号:1000-8519
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版权信息
主管单位:北京市科学技术研究院
主办单位:北京自动测试技术研究所
刊 期:月刊
开 本:16开
邮发代号:82-870
国内刊号:11-3927/TN
国际刊号:1000-8519
复合影响因子: 0.457
综合影响因子: 0.213
创刊时间:1994
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FPGA引脚分配方案的分析与改进
《电子测试》2015年 第7期 | 栗磊 姜明富
摘 要:本文研究了二分图算法和蚁群算法,在FPGA引脚分配上的应用,这两种算法各有优缺点。本文在这两种算法的基础上提出了一种混合算法,用于提高FPGA引脚分配的效率。经过验证得知,混合算法能有效提高FPGA引脚的实际分配效率。
【分 类】 【工业技术】 > 无线电电子学、电信技术 > 基本电子电路 > 数字电路 > 逻辑电路
【关键词】 二分图算法 蚁群算法 混合算法 FPGA引脚
【出 处】 《电子测试》2015年 第7期 3-5页 共3页
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