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主管:科学技术研究院         主办:自动测试技术研究所

《电子测试》

国内刊号:11-3927/TN   国际刊号:1000-8519

投稿邮箱:qkbjb126@163.com
主管:科学技术研究院
主办:自动测试技术研究所
国内刊号:11-3927/TN
国际刊号:1000-8519
邮发代号:82-870
复合影响因子: 0.457
综合影响因子: 0.213
创刊时间:1994
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《电子测试》(半月刊)创刊于1983年,由北京自动测试技术研究所主办。北京市科学技术研究院主管,国内外公开发行的科技类专业刊物。以介绍最新电子技术和测试测量技术为主,秉承一贯的专业性和权威性的办刊宗旨,坚持前瞻性、技术性和实用性的编辑方针,为测试测量及自动控制业界的工程师和技术研发人员提供了全新可靠的技术与应用和行业资讯。

"Electronic test" (semimonthly) was founded in 1983, organized by the Beijingauto testing technology research. The head of Beijing Municipal Institute of science and technology, science and technology specialty publications issued at home and abroad. To introduce the latest electronic technology and test and measurement technology, uphold the professional and authoritative publication purpose, adhere to the prospective, technical and practical editing guidelines fortest, measurement and automatic control of the industry engineers and technical R & D personnel to provide a new and reliable technology and application and industry information.

《电子测试》见证了中国电子测试测量业的发展历程。如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注,而为他们搭建沟通行业信息的平台,开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的核心使命。目前,众多科研院所、大专院校的科研精英和国内从事微电子行业和电子产品开发的科技人员已成为其忠实的读者群,我们的发行在严格坚持“质量大于数量”的前提下,目前已增加到四万册。

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